一、考试的总体要求
本课程为本专业主干专业基础课,要求考生掌握半导体物理的基本概念、二极管/双极型晶体管/场效应晶体管等器件的基本原理和应用。
二、考试的内容及比例
(一)考试内容要点: 第一部分:(50%)
1、半导体能带结构、半导体有效质量、空穴、杂质能级;
2、热平衡状态下半导体载流子的统计分布,本征半导体和杂质半导体的载流子浓度,简并半导体和重掺杂效应;
3、半导体的导电性:载流子的漂移运动、迁移率、散射、强电场效应、热载流子的概念,
半导体电阻率与温度、杂质浓度的关系;
4、非平衡载流子:非平衡载流子的产生、复合、寿命、扩散长度、准费米能级,爱因斯坦关系,一维稳定扩散,光激发载流子衰减;
5、p-n结:平衡与非平衡p-n结特点及其能带图,pn结理想和非理想I-V特性,p-n结电容概念与击穿机制,p-n结隧道效应、肖特基势垒二极管;
6、金属与半导体接触特点及其能带图,金属半导体接触整流理论,欧姆接触;
7、MOS结构表面电场效应,理想与实际MOS结构C-V特性; 第二部分:(50%)
1、双极晶体管的基本结构,工作原理,少子分布,低频电流增益和非理想效应;
2、双极晶体管的等效电路模型,频率特性和开关特性;
3、MOSFET的基本结构,工作原理,关键参数,电流电压关系,击穿特性;
4、MOSFET的小信号模型和频率特性;
5、MOSFET的非理想效应;
6、结型场效应晶体管的结构和基本工作原理;
7、光器件与功率器件的原理、特点与应用。
(二)比例:
两部分考试内容各占50%。
三、试卷题型及比例
1、填空与问答题:80%
2、计算与推导题:20%
四、考试形式及时间
考试形式均为笔试。考试时间为3小时(满分150)。
五、参考书目
半导体物理学,(第七版),刘恩科、朱秉升、罗晋生编著,电子工业出版社。半导体物理与器件,(第四版),赵毅强、姚素英等译,电子工业出版社。
晶体管原理与设计,陈星弼 张庆中等, 电子工业出版社。
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